二氧化硅納米薄膜厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
國(guó)標(biāo)號(hào)：GBW13965
英文名稱(chēng)：CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers
應(yīng)用領(lǐng)域：物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性
保存條件：貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下
使用注意事項(xiàng)：運(yùn)輸過(guò)程中必須保持包裝的完整，使用過(guò)程中必須保持樣品表面清潔
特征形態(tài)：固態(tài)
基體：
主要分析方法：掠入射X射線(xiàn)反射測(cè)量和橢偏測(cè)量#
定值單位：中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院#
規(guī)格：每盒1片
量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 不確定度 單位 CAS 備注
二氧化硅納米薄膜厚度 9.92 0.40 nm
